Fort de notre expérience en spectrométrie de masse, nous possédons une large gamme d’équipements. Ils nous permettent de répondre aux besoins d’analyses dans des domaines très variés grâce à nos différents appareils SIMS (secondary ion mass spectrometry).
- Nos équipements de dernière génération ( notamment un SC Ultra de Cameca) permettent notamment l’analyse de matériaux semiconducteurs pour la détermination des dopants et impuretés dans des concentrations très faibles.
- Nos étalons permettent de quantifier la quasi totalité du tableau periodique dans la plupart des matrices utilisées dans la recherche et l’industrie du semiconducteur (Si, SiC, SiGe, SiO2, III-V et II-VI, diamant).
- L’analyse de matériaux métalliques tel que les alliages de titane (Ti), ainsi que les matrices à base d’oxyde (YBaCuO, SOFC, UO2 …)
- Nos délais d’analyse sont courts et peuvent être adaptés selon vos besoins.